2026학년도 실험실습기자재 외자구매(고가첨단_공동실험실습관_전계방출형 주사전자현미경)

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• 공급자증명서 양식 및 작성요령.hwp · 공고규격서
• 해외공급자 계약서 서명권한 위임장(양식).hwp · 공고규격서
• R26BK01451329-000_20260408153023_외자공고서_D02.htm · 공고규격서
• R26BK01451329-000_20260408153023_SUMMARY_OF_BIDDING_D03.htm · 공고규격서

공고 개요

외자 · 유찰 · 전남대학교 · 기타 연구장비

결과

유찰

참가

1곳 · 개찰 05/07(목)

요약 AI 요약

다양한 시편의 표면 구조를 관찰하고 화학·재료 결정 특성을 분석하기 위한 전계방출 주사전자현미경(FE-SEM) 1세트를 구매하는 사업이다. 사용자에게 첨단 교육 기회를 제공하고 현장 연구개발을 지원하는 것이 목적이다.

• 전자빔 광학계, 인컬럼 2차전자 검출기, 주챔버 2차전자 검출기, 4분할 이상 인렌즈 후방산란전자 검출기, 5분할 이상 모터 구동 후방산란전자 검출기 등 검출기 일체
• 시편 바이어스 유닛(입사전자를 시편 직전·직후 감속/가속하여 빔 손상 감소 및 분해능·S/N비 향상)
• 2개 이상 2차전자 검출기 신호 혼합 기능 및 1kV 이하 저가속전압 영역에서 후방산란전자 획득 기능
• 에너지 분산형 X선 분광기(EDS): 열전냉각 방식, 검출범위 Be(4)~Am(95), 127eV 이하 분해능, 70mm² 센서, 정량·매핑·선스캔 소프트웨어
• 전자후방산란회절(EBSD): CMOS 센서, 640x480 해상도, 6,700pps 이상 인덱싱, 동적 매핑, 결정립 크기·재결정 도구, 텍스처·경계 특성 분석 소프트웨어
• 완전 진중심 5축 모터 구동 시편 스테이지(X/Y 110mm 이상, Z 40mm 이상, T -5°~+70° 이상, R 360° 무한회전), 최대 시편 크기 150mm

참가 자격 · 제한

업종제한

제한 없음

지역제한

제한 없음

공동수급

공동수급불허

입찰참가 제한

모름

실적경쟁 · PQ

모름

국제입찰

국제입찰

제출 방법

전자입찰

입찰 일정

가격

예정가격 방식

비예가

납품

품명

주사전자현미경 (4111172001)

인도조건

모름

제조물품

모름

세부품명 등록

모름

공고 정보

공고종류

등록공고 (일반공고)

게시일

04/08(수)

공고번호

R26BK01451329-000

참조번호

R26DC00166696

공고기관

조달청

수요기관

전남대학교

계약방법

일반경쟁

낙찰방법

규격적합자중 최저가

계약유형

총액계약

예정가격 방식

비예가

추정가격

-

배정예산

-

사전규격번호

R26BD00203459

재공고

아니오

출처

나라장터

문서 발췌

=== 구매규격서.hwp === 서식 2.

구매규격서

품 명(Description) : Field Emission Scanning Electron Microscope(FE-SEM) 구 매 규 격 서 [ COMMODITY DESCRIPTION ]

Ⅰ. End-user's Use - This equipment is FE-SEM evaluating surface structures of various specimens and analyzing chemical/materials grain properties, should be equipped with specific function to offer users advanced education and to support the field R&D. - A stage bias function should equipped, which decelerates/accelerates incidents electrons just before/after they hit a specimen in order to reduce beam damage and increase resolution & S/N ratio. - This SEM should be standard-equipped with the function for mixing the detection signals of 2 or more secondary electron detectors, and for getting back-scattered electron at the low accelerating voltage (lower than 1kV) region which could require both surface detail and composite information. Ⅱ. Configurations of Goods

1. 주장비(Main unit) 1) Field Emission Scanning Electron Microscope, 1set 1-1) Electron beam optical system, 1set 1-2) SEM in-column secondary electron detector, 1set 1-3) Secondary electron detector in main chamber, 1set 1-4) Main chamber unit, 1set 1-5) Vacuum system, 1set 1-6) 4 or more segment in-lens BSE detector, 1set 1-7) 5 or more segment motorized retractable BSE detector, 1set 1-8) Stage extraction, 1set 1-9) Tilt compensation function, 1set 1-10) Specimen bias unit, 1set 1-11) Trackball for stage control, 1set 1-12) Camera navigation system integrating chamber, 1set 1-13) Chamber scope including stage limit free, 1set 1-14) External communication interface, 1set 1-15) Minimum Vacc expansion function, 1set 1-16) Modification for EBSD, 1set 1-17) FE-Tip 1 ea 1-18) Ion sputter coater, 1set 1-19) Oil rotary pump 1 set 1-20) Pt target 1 ea

2. 부속장비(Sub unit) 1) Closed water re-circulator (5 ~ 35℃ or wider control), 1set 2) Air compressor for valve control, 1set 3) Oil free type scroll pump (250L/min or better), 1set 4) 1“ stub, 5ea 5) 2“ stub, 2ea Ⅲ. Performance & Specification 1. Resolution - 0.6nm or less at 15kV - 0.8nm or less at 1kV 2. Magnification : Max. x2,000,000 or more 3. Electron optics - Electron gun : ZrO/W Schottky type Field emission type electron gun - Accelerating voltage : 0.01 ~ 30kV or wider - Probe current : Max. 200nA or more - Lens system : 3-stage electro-magnetic lens - Objective lens aperture : 4 holes or more movable aperture - Electrostatic/Magnetic compound lens - Detectors : 1) In-column SE detector

2) 4 or more segments In-column BSE detector 3) Chamber SE detector 4) 5 or more segments motorized retractable BSE detector below OBJ lens 4. EDS - Liquid Nitrogen free with integrated thermo electric cooling system - Detection range :Beryllium(4) up to Americium(95) - Resolution of 127 eV or better, measured at MnK, 200K CPS. - Sensor: 70mm² - Beam Control Package - Electron Microscope Interface kit - SEM Quant software - Image collection and display software - Line Scan - Fast Mapping - Live Spectral Mapping - Column Control S/W - Stage Automation control software - EDX Standard Calibration Specimen kit 5. EBSD - CMOS sensor - 640(h) X 480(w) image resolution - 120 x 120 image resolution at >6,700 pps indexing speeds - Operation down to 100pA beam current - Operation down to 5kV acceleration voltage - Smart Camera optimization - Smart Background collection - Smart Indexing - Smart Track - Dynamic Mapping: IQ, Orientation, Phase, SEM - Time Machine - Data Management and Reporting - Grain Size & Recrystallization Tool - Advanced Boundary Characterization - Advanced Texture Characterization - Advanced Properties Characterization - ChI-Scan Software - Pattern Region of Interest Analysis System - Neighbor Pattern Averaging and Re-indexing) - Column Control S/W - EDX analysis S/W full package - Electron Microscope Interface kit - Remote off-line analysis software - EDX Standard Calibration Specimen kit

6. Specimen stage : Fully eucentric 5-axis motorized stage 1) Movable range : X/Y(110mm or more), Z(40mm or more), T(-5°~+70° or more), R(360°, endless) 2) Stage control : - Controlled through Navigation software - Eucentric rotation function 3) Maximum loading specimen size : 150mm diameter 7. Operating system 1) Monitor for SEM viewing : Dual 27 inches LCD (16:9) or more 2) Operating system : Microsoft Windows 10 Professional (64bit) or more 3) Operating control : Keyboard, mouse and rotary knobs should be equipped. Trackball or Joystick. 4) Scanning mode : Various steps in each modes - Rapid scan - Charging suppression scan 5) Scan speed : User could select various capturing time at each condition

6) Signal display mode 7) Image data saving : Frame size - Max. 10,240 x 7,680 pixels or more 8) Data entry 9) Easy operation and operational assist function Ⅴ. 기타 조건(Remarks) 1) Installation & Training : Should be supplied by maker’s trained engineer free of charge. 2) Warranty : Should be one year after installation. 3) Delivery : 9 months after receipt of L/C 4) Payment term : 90% on shipment, 10% after installation. === 공급자증명서 양식 및 작성요령.hwp ===

공 급 자 증 명 서

From： (※ 해외공급자 명의) 발신: To： Public Procurement Service, The Republic of Korea 수신: 대한민국 조달청 Date : (※ 입찰참여일자 기재) 일자: